供需大厅

登录/注册

公众号

更多资讯,关注微信公众号

小秘书

更多资讯,关注荣格小秘书

邮箱

您可以联系我们 info@ringiertrade.com

电话

您可以拨打热线

+86-21 6289-5533 x 269

建议或意见

+86-20 2885 5256

顶部

荣格工业资源APP

了解工业圈,从荣格工业资源APP开始。

打开

三星HBM未通过英伟达认证测试 原因何在?

来源:荣格电子芯片综合 发布时间:2024-05-30 213
电子芯片设计/电子设计自动化(EDA)设计/电子设计自动化(IP类软件) 电子芯片设计
三星HBM芯片未通过英伟达认证测试,最终影响了其在人工智能处理器中的应用。

日前路透(Reuters)报导称,三星电子(Samsung Electronics)HBM3E未通过NVIDIA的测试。尽管三星随后出面解释仍引起各界高度关注,而韩国业界、学界也探究背后原因,推测三星于HBM封装制程方面仍未克服良率问题。

 

有韩媒分析称,三星电子的高带宽内存(HBM)芯片未能通过英伟达的测试,主要原因是存在散热和功耗问题。三名知情人士透露,这些问题影响到了三星的HBM3芯片和即将推出的HBM3E芯片。这些芯片在进行人工智能处理器的测试时,由于发热和功耗过高,无法满足英伟达的要求。

 

尽管有报道称三星否认了相关消息,并声称正在与全球合作伙伴顺利进行HBM芯片的测试过程, 但大量证据表明,散热和功耗问题确实是导致三星HBM芯片未通过英伟达测试的主要原因。此外,有报道指出,台积电在审批环节可能也存在问题,这进一步加剧了三星HBM芯片的测试失败。

 

因此,三星HBM芯片未通过英伟达认证测试,最终影响了其在人工智能处理器中的应用。

 

目前,公开消息称,三星正在与客户紧密合作,优化产品以解决这些问题,但目前尚不清楚这些问题是否可以轻松解决。此外,三星的主要竞争对手SK海力士和美光科技已经开始向英伟达供应HBM3E芯片,这可能加剧了三星在HBM领域的竞争压力。

关注微信公众号 - 荣格电子芯片
聚焦电子芯片制造领域的技术资讯、企业动态以及前沿创新,涵盖半导体、集成电路、贴片封装等多个行业领域的解决方案。
推荐新闻