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日前路透(Reuters)报导称,三星电子(Samsung Electronics)HBM3E未通过NVIDIA的测试。尽管三星随后出面解释仍引起各界高度关注,而韩国业界、学界也探究背后原因,推测三星于HBM封装制程方面仍未克服良率问题。
有韩媒分析称,三星电子的高带宽内存(HBM)芯片未能通过英伟达的测试,主要原因是存在散热和功耗问题。三名知情人士透露,这些问题影响到了三星的HBM3芯片和即将推出的HBM3E芯片。这些芯片在进行人工智能处理器的测试时,由于发热和功耗过高,无法满足英伟达的要求。
尽管有报道称三星否认了相关消息,并声称正在与全球合作伙伴顺利进行HBM芯片的测试过程, 但大量证据表明,散热和功耗问题确实是导致三星HBM芯片未通过英伟达测试的主要原因。此外,有报道指出,台积电在审批环节可能也存在问题,这进一步加剧了三星HBM芯片的测试失败。
因此,三星HBM芯片未通过英伟达认证测试,最终影响了其在人工智能处理器中的应用。
目前,公开消息称,三星正在与客户紧密合作,优化产品以解决这些问题,但目前尚不清楚这些问题是否可以轻松解决。此外,三星的主要竞争对手SK海力士和美光科技已经开始向英伟达供应HBM3E芯片,这可能加剧了三星在HBM领域的竞争压力。