宽发散光束的测量难题

在快速增长的市场中，VCSEL、LED、边缘发射和光纤激光器被用于许多敏感应用。为了保证器件的高质量，有必要对光束轮廓进行分析，但那些宽发散光束也对测量系统提出了特殊的要求。一方面，传统光束轮廓仪的孔径太小，无法采集大发散光源的整个光斑。另一方面，由于探测器的量?效率极其依赖入射角，因此无法使用常规探测器精确地测量发散光束。如今，随着 Ophir 宽光束成像仪（WB-I）的开发，这些难题已迎刃而解。WB-I 是一种用于光束轮廓相机的校准光学附件，基于45mm 孔径的漫射器和?于远场测量的成像透镜。。。。