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来源:卡尔蔡司(上海)管理有限公司
发布时间:2023-02-28
白皮书简介
很长一段时间以来,人们使用传统的接触式测头量测方法对工件进行量测,该方法经多年实践应用,技术比较成熟,应用经验丰
富,具有较广泛的实践价值。
接触式测头自动量测设备精准度高,是进行几何量测的优良选择。尤其在精密测量领域,该技术可对钻孔圆度等几何误差进行量
测。因该接触式测量技术诞生历史悠久,存在比较客观,标准的行业技术规范。
本份白皮书着重介绍了创新的三维光学扫描量测系统/技术(ZEISS OPTOTECHNIK 三维光学扫描COMET 系列, T-SCAN 系列)与传统接触式测头量测系统/技术之间的区别。
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